一、低壓循環(huán)冷熱沖擊測試箱用途：

     適用于國防工業(yè),航空工業(yè)、兵工業(yè)、自動(dòng)化零組件、汽車部件、電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品、塑 膠、化工業(yè)、食品業(yè)、 BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品等設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)（沖擊），適應(yīng)于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組無一不需要它的理想測試工具.

二、低壓循環(huán)冷熱沖擊測試箱滿足標(biāo)準(zhǔn)：
1. GB10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
2. GB11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
3. GB10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
4. GB2423.1 低溫試驗(yàn)、試驗(yàn)A
5. GB2423.2 高溫試驗(yàn)、試驗(yàn)B
6. GB2423.22 溫度變化試驗(yàn)、試驗(yàn)N
7. IEC68-2-14 試驗(yàn)N

8. GJ標(biāo)GJB150.3-86
9. GJ標(biāo)GJB150.4-86

10.GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法 　

11.GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

三、控制方式與特色

　  利用低溫及高溫蓄冷熱儲(chǔ)存槽，依動(dòng)作需要打開DAPER，達(dá)到快速?zèng)_擊效果；平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)（BTC），以P.I.D.方式控制SSR，使系統(tǒng)之加熱量等于熱損耗量，故能長期穩(wěn)定使用。

五、技術(shù)參數(shù)：

1、 溫度范圍：-20℃/-40℃/-55℃/-65℃～+150℃

2、 溫度上限：+200℃

3、 溫度下限：-75℃

4、 溫度偏差：±2℃

5、 溫度波動(dòng)度：±0.5℃

6、 溫度恢復(fù)時(shí)間：5min

7、 溫度恢復(fù)條件：高溫+150℃保溫≥30min低溫-40℃保溫≥30min.

8、 試品轉(zhuǎn)移方式：采用氣動(dòng)

9、試品重量：≤5kg

10、噪音：（dB）≤67

11、電源：AC380V±10％/50/60Hz+保護(hù)接地